湖南朝辉测控技术有限公司
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PT124G-3510系列差压传感器，采用MEMS技术制成的单晶硅传感器芯片，内嵌高品质测压膜盒和信号处理模块，是基于被测压力直接作用于传感器正负压腔的膜片上，使膜片产生与压力成正比例关系的微位移，并将该压力差传递至单晶硅芯片两端，通过集成电路监测该位移变化，并转换输出一个相应压力差的的标准测量信号
传感器具有高过压性能及良好的温度补偿，安装便捷，具有良好的环境适应性，可广泛用于各类工控环境。
● 采用进口FST单晶硅MEMS芯片进行封装
● 产品精度可达0.04%FS
● 具有优异的过压性能
● 可用于负压力测量
● 智能静压补偿和温度补偿，环境适应性强
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