常州市赛维思环境试验设备有限公司
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该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
温度（冷热）冲击试验箱
·产品用途 该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。 二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。 三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的zui大特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。 ·规格与技术参数 型号 CJ-42 CJ-80 CJ-150 CJ-252 ·产品结构： 1．外壳冷轧钢板喷塑/内胆不锈钢，箱门均采用优质硅橡胶密封条。 2.隔热层：硬质聚胺脂.超细玻璃棉 3.制冷方式：二元压缩制冷方式（水冷冷凝器） 4.制冷机：制冷压缩机选用2台法国“泰康”半封闭压缩机，其主要制冷配件均采用进口原件，组装成为一套复叠制冷机组。在制冷管路系统中采用了多路能量调节回路，能较好地保证达到试验箱的各项技术参数。 5.加热器：*级不锈钢翅片加热器 6.IPC2000彩色LCD触摸屏控制器，可显示所设定运行的温度曲线及温度的升降动态进程 7.待测品静止自动引导预热区、室温、预冷区温度冲击。 8.试验箱采用三箱式冲击试验程式控制。高温箱/试验箱/低温箱依上而下。样品在试验室内保持静止。 ·设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5GJB1217-91等标准的要求。 
内部尺寸（cm） 40×30×35 50×40×40 60×50×50 70×60×60
外部尺寸（cm） 162×200×142 172×200×147 182×210×157 192×220×167
测试区温度范围 高温：+60℃～+150℃ 低温：-10℃ ～ －65℃
（A：-45℃ B：-55℃ C：-65℃）
（高温区） 升温时间 RT—200℃约需45min
（低温区） 降温时间 RT—-70℃约需90min
回复时间 5min内
温度稳定度 ±0.2℃
保温材质 耐高温、高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘材料
系 统 P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统
冷冻系统 法国泰康全封闭风冷式复叠机/德国谷轮水冷式机组
保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器
配 件 上下可调隔层两片
电 源 3Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380V/415VAC±10% 50Hz
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