CHY-CALabthink兰光自动进样薄膜厚度测量仪

Labthink兰光CHY-CA薄膜厚度测量仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等多种测试标准，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

Labthink兰光CHY-CA自动进样薄膜厚度测量仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等多种测试标准，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。Labthink兰光拥有*的检测技术与专业实验室，专业致力于为范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供*秀、zui全面的品质控制解决方案。

CHY-CA自动进样薄膜厚度测量仪技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
　　　　　0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净　　重：32kg

以上CHY-CA自动进样薄膜厚度测量仪信息由Labthink济南兰光发布，了解详细信息！